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导通可靠性测试仪RTm-100/30DC系列

RTm-100/30DC系列对VIA孔、通孔等导通部分的大电流施加应力时的导通可靠性评价。

RTm-100系列测量系统可捕获传导阻力小于mΩ的变化。结合高低温冲击箱,进行数据测量和温度周期变化一起使用。高精度模拟测量电路还可以检测测试周期内早期的微小变化。此外,半导体继电器高速扫描功能,完全遵循短测试周期,不改变每个测量周期时间。

RTm30DC应力电流可任意设置,从 0.1A 到 3.0A,以满足汽车电子相关制造商的测试要求。

设备可以于本公司的TS2/TS3系列温度冲击箱配套使用。

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窦先生

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